




產(chǎn)品描述
JIMA(日本檢測儀器制造商協(xié)會),致力于關(guān)注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。 JIMA RT RC-02B分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm 圖案布局:L型 線/空間尺寸: 16種規(guī)格圖案, 0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm, 2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm JIMA RT RC-04 X射線分辨率測試卡 JIMA RT RC-05分辨率測試卡
您是第262959位訪客
版權(quán)所有 ©2026-04-28 粵ICP備17126621號-8
深圳為爾康科技有限公司 保留所有權(quán)利.
技術(shù)支持: 八方資源網(wǎng) 免責(zé)聲明 管理員入口 網(wǎng)站地圖手機網(wǎng)站
地址:廣東省 深圳市 龍崗區(qū) 深圳市龍崗區(qū)南灣街道沙平北路111號608A室
聯(lián)系人:曾祥湖先生(業(yè)務(wù))
微信帳號:15361860065